Проводящие зонды с TiN покрытием

Компания ТипсНано возобновляет продажу зондов с проводящим TiN покрытием. Кантилеверы серий FMG01/TiN, NSG01/TiN, NSG10/TiN, NSG30/TiN с твёрдым и износоустойчивым TiN покрытием позволяют проводить измерения в C-AFM, PFM, EFM, KPFM, SSRM методиках.

Важными преимуществами TiN-зондов являются:

• Прочное покрытие, которое остается стабильным и не повреждается даже при высоких напряжениях и больших значениях тока в точке контакта «зонд-образец» по сравнению с обычным металлическим покрытием;
• Высокая проводимость, близкая по значению к металлической проводимости;
• Типичный радиус закругления менее 35 нм.

Зонды с проводящим TiN покрытием обладают высокой чувствительностью и стабильностью, обеспечивая получение изображений с высоким разрешением в течение долгого времени.
Покрытие выдерживает напряжение ± 8В при работе с образцом свежесколотого пиролитического графита и позволяет снимать до 50 и более сканов исследуемых образцов.

  SSRM изображение легированного поликремневого образца,
полученное зондом NSG01 с TiN покрытием
(слева- топография образца, справа - карта распределение токов).

Диаграмма профиля одного и того же участка образца на различных сканах.
Профили очень близки как на первом, так и на пятидесятом скане,
что показывает высокую устойчивость TiN покрытия.

Применение TiN зондов.

• Идеально подходят для проводящих методик АСМ при измерении тока в диапазоне от пА до мкА.
• Используются для измерения большого количества образцов с вкраплениями металлов, сплавов, диэлектриков, полупроводников, проводящих полимеров, нанопленок, нанотрубок, наночастиц, ионной диффузии в нанопорах, для окислительной нанолитографии и многих других исследований.
• В Силовой Микроскопии Пьезоотклика (PFM) исследуются электромеханические связи на таких образцах, как сегнетоэлектрические, пьезоэлектрические материалы, биологические образцы и т.д.
• TiN зонды также находят применение при работе с проводящими полимерными композитами в методике Отображения Сопротивления Растекания (SSRM), а также в Электростатической Силовой Микроскопии (EFM) , Методе Зонда Кельвина (KPFM) и других электрических методиках.

Выбирайте нужные Вам кантилеверы, следите за нашими новостями,
пользуйтесь специальными предложениями и экономьте бюджет,
заказывая АСМ аксессуары у компании ТипсНано!