sales@tipsnano.com
Контакты

Подбор параметров

Структура
Все
Тип образца
Все
Длина балки, L± мкм
Ширина балки, W± мкм
Толщина балки, T± мкм
Резонансная частота, кГц
Силовая константа, Н/м
 
Выбрано: 0
Показать
 

АСМ калибровка

Для определения достоверности исследований методом АСМ — микроскопии проводится тестирование и калибровка работы микроскопа и тестирование качества зондов (цена деления по X-, Y-, Z- координатам, радиус острия кантилевера, линейность и ортогональность осей сканирования). Для калибровки и определения рабочей формы зондов используются специальные тестовые структуры с известными параметрами рельефа поверхности.
Для калибровки микроскопов в плоскости сканирования и по вертикали применяются дифракционные решетки с субмикронными размерами. При отсутствии специально изготовленных калибровочных решеток, можно использовать в качестве тестового объекта для получения атомарного разрешения свежий скол слюды или высоко ориентированного пиролитического графита (ВОПГ), т.к. параметры их рельефа хорошо известны.
Преимуществами графита как тестового образца являются: стабильная работа выхода; низкая концентрация точечных и линейных дефектов; низкая химическая активность в атмосферных условиях; возможность получения атомарно — чистой поверхности.
TGS1_PTB TGS1_PTB

Calibration grating set TGS1 (consists of three gratings TGZ1, TGZ2, TGZ3) with PTB tracable certificate. Step height range: 20±2nm, 110±10nm,  520±20nm.

  41 808 руб.
В корзину
TGS1_PTB TGS1_PTB

Calibration grating set TGS1 (consists of three gratings TGZ1, TGZ2, TGZ3) with PTB tracable certificate. Step height range: 20±2nm, 110±10nm,  520±20nm.

  41 808 руб.
В корзину
TGS2 TGS2

Set of 6 calibration gratings for SPM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.

  34 840 руб.
В корзину
TGS2 TGS2

Set of 6 calibration gratings for SPM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.

  34 840 руб.
В корзину
TGZ2 TGZ2

Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.

  6 968 руб.
В корзину
TGZ2 TGZ2

Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.

  6 968 руб.
В корзину
TGS1F TGS1F

Set of 4 calibration gratings for AFM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity. Calibration grating set TGS1 for Z and X (or Y) calibration. Step height range: 20±2nm, 110±10nm,  520±20nm, 1517±20nm.

  17 420 руб.
В корзину
TGS1F TGS1F

Set of 4 calibration gratings for AFM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity. Calibration grating set TGS1 for Z and X (or Y) calibration. Step height range: 20±2nm, 110±10nm,  520±20nm, 1517±20nm.

  17 420 руб.
В корзину
DNA01 DNA01

Тестовый образец ДНК на слюде DNA01

  10 452 руб.
В корзину
DNA01 DNA01

Тестовый образец ДНК на слюде DNA01

  10 452 руб.
В корзину
Mica/15x15 Mica/15x15

Подложка слюды, толщина 0,15мм, размер 15 x 15 мм.

  10 452 руб.
В корзину
Mica/15x15 Mica/15x15

Подложка слюды, толщина 0,15мм, размер 15 x 15 мм.

  10 452 руб.
В корзину
TGS1 TGS1

Набор из 3-х калибровочных решеток TGS1 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм, 110±10нм, 520±20нм.

  13 936 руб.
В корзину
TGS1 TGS1

Набор из 3-х калибровочных решеток TGS1 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм, 110±10нм, 520±20нм.

  13 936 руб.
В корзину
TGZ1 TGZ1

Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.

  6 968 руб.
В корзину
TGZ1 TGZ1

Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.

  6 968 руб.
В корзину
TGSFull TGSFull

Набор калибровочных мер для АСМ для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности, гистерезиса, крипа, определения формы и остроты иглы.

  80 132 руб.
В корзину
TGSFull TGSFull

Набор калибровочных мер для АСМ для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности, гистерезиса, крипа, определения формы и остроты иглы.

  80 132 руб.
В корзину
TGS_Cert TGS_Cert

Набор калибровочных мер для АСМ с  Сертификатом о калибровки международного образца. Калибровочные решетки предназначены для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности сканера, крипа, гистерезиса, определения остроты и формы иглы.    

  269 313 руб.
В корзину
TGS_Cert TGS_Cert

Набор калибровочных мер для АСМ с  Сертификатом о калибровки международного образца. Калибровочные решетки предназначены для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности сканера, крипа, гистерезиса, определения остроты и формы иглы.    

  269 313 руб.
В корзину
Mica/d9.5 Mica/d9.5

Подложка слюды в виде дисков, толщина  0.15 мм, диаметр 9.5 мм.

  10 452 руб.
В корзину
Mica/d9.5 Mica/d9.5

Подложка слюды в виде дисков, толщина  0.15 мм, диаметр 9.5 мм.

  10 452 руб.
В корзину
SiC/1.5 SiC/1.5

Тестовый образец SiC/1.5 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.

  8 362 руб.
В корзину
SiC/1.5 SiC/1.5

Тестовый образец SiC/1.5 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.

  8 362 руб.
В корзину
TGT1 TGT1

Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.

  20 904 руб.
В корзину
TGT1 TGT1

Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.

  20 904 руб.
В корзину
SiC/0.75 SiC/0.75

Тестовый образец SiC/0.75 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.

  8 362 руб.
В корзину
SiC/0.75 SiC/0.75

Тестовый образец SiC/0.75 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.

  8 362 руб.
В корзину
TGG1 TGG1

Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.

  13 936 руб.
В корзину
TGG1 TGG1

Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.

  13 936 руб.
В корзину
SU001 SU001

Набор из 10 сапфировых (поликоровых) прямоугольных  подложек.  

  16 654 руб.
В корзину
SU001 SU001

Набор из 10 сапфировых (поликоровых) прямоугольных  подложек.  

  16 654 руб.
В корзину
TGQ1 TGQ1

Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.

  20 904 руб.
В корзину
TGQ1 TGQ1

Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.

  20 904 руб.
В корзину
PFM03 PFM03

Тестовый образец из ниабата лития для Силовой Микроскопии Пьезоэлектрического отклика.

  24 388 руб.
В корзину
PFM03 PFM03

Тестовый образец из ниабата лития для Силовой Микроскопии Пьезоэлектрического отклика.

  24 388 руб.
В корзину
TGZ3 TGZ3

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.

  6 968 руб.
В корзину
TGZ3 TGZ3

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.

  6 968 руб.
В корзину
TGZ4 TGZ4

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой  1517±20nm.

  6 968 руб.
В корзину
TGZ4 TGZ4

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой  1517±20nm.

  6 968 руб.
В корзину
TGX1 TGX1

Калибровочная решеткаTGX1 для определения латеральной нелинейности сканера, крипа, гистерезиса, остроты иглы.

  13 936 руб.
В корзину
TGX1 TGX1

Калибровочная решеткаTGX1 для определения латеральной нелинейности сканера, крипа, гистерезиса, остроты иглы.

  13 936 руб.
В корзину
TDG01 TDG01

Калибровочная решетка TDG01 для субмикронной  калибровки по X/Y, период 278нм

  13 936 руб.
В корзину
TDG01 TDG01

Калибровочная решетка TDG01 для субмикронной  калибровки по X/Y, период 278нм

  13 936 руб.
В корзину

 

успешно добавлен в корзину!

Продолжить покупкиВ корзину