sales@tipsnano.ru
Контакты

Подбор параметров

Структура
Все
Тип образца
Все
 
Выбрано: 0
Показать
 

Калибровочные меры

TipsNano Co supplies with the full set of calibration standards for AFM lateral and vertical calibration including submicron calibration in X or/and Y direction, test grating for the tip shape estimation, Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG), DNA and PFM test samples.
TGT1 TGT1

Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.

  30 000 руб.
В корзину
TGT1 TGT1

Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.

  30 000 руб.
В корзину
TGG1 TGG1

Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.

  20 000 руб.
В корзину
TGG1 TGG1

Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.

  20 000 руб.
В корзину
TGZ1 TGZ1

Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.

  12 000 руб.
В корзину
TGZ1 TGZ1

Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.

  12 000 руб.
В корзину
TGQ1 TGQ1

Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.

  30 000 руб.
В корзину
TGQ1 TGQ1

Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.

  30 000 руб.
В корзину
TGZ2 TGZ2

Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.

  12 000 руб.
В корзину
TGZ2 TGZ2

Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.

  12 000 руб.
В корзину
TGZ3 TGZ3

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.

  12 000 руб.
В корзину
TGZ3 TGZ3

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.

  12 000 руб.
В корзину
TGZ4 TGZ4

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой  1517±20nm.

  12 000 руб.
В корзину
TGZ4 TGZ4

Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой  1517±20nm.

  12 000 руб.
В корзину
TGX1 TGX1

Калибровочная решеткаTGX1 для определения латеральной нелинейности сканера, крипа, гистерезиса, остроты иглы.

  20 000 руб.
В корзину
TGX1 TGX1

Калибровочная решеткаTGX1 для определения латеральной нелинейности сканера, крипа, гистерезиса, остроты иглы.

  20 000 руб.
В корзину
TDG01 TDG01

Калибровочная решетка TDG01 для субмикронной  калибровки по X/Y, период 278нм

  30 000 руб.
В корзину
TDG01 TDG01

Калибровочная решетка TDG01 для субмикронной  калибровки по X/Y, период 278нм

  30 000 руб.
В корзину

 

успешно добавлен в корзину!

Продолжить покупкиВ корзину