|
sales@tipsnano.com Контакты |
|
Подбор параметров |
Калибровочные меры
TipsNano Co supplies with the full set of calibration standards for AFM lateral and vertical calibration including submicron calibration in X or/and Y direction, test grating for the tip shape estimation, Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG), DNA and PFM test samples.
TGT1
Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.
30 000 руб.
TGT1
Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.
30 000 руб.
TGG1
Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.
20 000 руб.
TGG1
Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.
20 000 руб.
TGZ1
Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.
12 000 руб.
TGZ1
Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.
12 000 руб.
TGQ1
Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.
30 000 руб.
TGQ1
Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.
30 000 руб.
TGZ2
Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.
12 000 руб.
TGZ2
Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.
12 000 руб.
TGZ3
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.
12 000 руб.
TGZ3
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.
12 000 руб.
TGZ4
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 1517±20nm.
12 000 руб.
TGZ4
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 1517±20nm.
12 000 руб.
|
