|
sales@tipsnano.ru Контакты |
|
Подбор параметров |
АСМ калибровка
Для определения достоверности исследований методом АСМ — микроскопии проводится тестирование и калибровка работы микроскопа и тестирование качества зондов (цена деления по X-, Y-, Z- координатам, радиус острия кантилевера, линейность и ортогональность осей сканирования). Для калибровки и определения рабочей формы зондов используются специальные тестовые структуры с известными параметрами рельефа поверхности. Для калибровки микроскопов в плоскости сканирования и по вертикали применяются дифракционные решетки с субмикронными размерами. При отсутствии специально изготовленных калибровочных решеток, можно использовать в качестве тестового объекта для получения атомарного разрешения свежий скол слюды или высоко ориентированного пиролитического графита (ВОПГ), т.к. параметры их рельефа хорошо известны. Преимуществами графита как тестового образца являются: стабильная работа выхода; низкая концентрация точечных и линейных дефектов; низкая химическая активность в атмосферных условиях; возможность получения атомарно — чистой поверхности. 
TGS1_PTB
Calibration grating set TGS1 (consists of three gratings TGZ1, TGZ2, TGZ3) with PTB tracable certificate. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm.
90 000 руб.
TGS1_PTB
Calibration grating set TGS1 (consists of three gratings TGZ1, TGZ2, TGZ3) with PTB tracable certificate. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm.
90 000 руб.
TGS1F
Set of 4 calibration gratings for AFM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity. Calibration grating set TGS1 for Z and X (or Y) calibration. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm, 1517±20nm.
30 000 руб.
TGS1F
Set of 4 calibration gratings for AFM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity. Calibration grating set TGS1 for Z and X (or Y) calibration. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm, 1517±20nm.
30 000 руб.
TGS2
Set of 6 calibration gratings for SPM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.
90 000 руб.
TGS2
Set of 6 calibration gratings for SPM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.
90 000 руб.
TGSFull
Набор калибровочных мер для АСМ для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности, гистерезиса, крипа, определения формы и остроты иглы.
130 000 руб.
TGSFull
Набор калибровочных мер для АСМ для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности, гистерезиса, крипа, определения формы и остроты иглы.
130 000 руб.
TGS1
Набор из 3-х калибровочных решеток TGS1 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм, 110±10нм, 520±20нм.
25 000 руб.
TGS1
Набор из 3-х калибровочных решеток TGS1 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм, 110±10нм, 520±20нм.
25 000 руб.
SiC/0.75
Тестовый образец SiC/0.75 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
24 000 руб.
SiC/0.75
Тестовый образец SiC/0.75 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
24 000 руб.
SiC/1.5
Тестовый образец SiC/1.5 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
24 000 руб.
SiC/1.5
Тестовый образец SiC/1.5 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
24 000 руб.
TGT1
Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.
30 000 руб.
TGT1
Калибровочная решетка TGT1 для определения остроты и характеристик иглы зонда.
30 000 руб.
TGG1
Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.
20 000 руб.
TGG1
Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.
20 000 руб.
TGZ1
Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.
12 000 руб.
TGZ1
Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.
12 000 руб.
TGQ1
Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.
30 000 руб.
TGQ1
Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.
30 000 руб.
TGZ2
Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.
12 000 руб.
TGZ2
Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.
12 000 руб.
PFM03
Тестовый образец из ниабата лития для Силовой Микроскопии Пьезоэлектрического отклика.
45 000 руб.
PFM03
Тестовый образец из ниабата лития для Силовой Микроскопии Пьезоэлектрического отклика.
45 000 руб.
TGZ3
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.
12 000 руб.
TGZ3
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.
12 000 руб.
TGZ4
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 1517±20nm.
12 000 руб.
TGZ4
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 1517±20nm.
12 000 руб.
|
