Русский

English

RUB

USD

EUR

Новости и акции Доставка и оплата Помощь покупателю О нас Специальные предложения

Вход

Регистрация

sales@tipsnano.ru
Контакты

АСМ зонды

Полуконтактные

Контактные

Методика Модуляция Силы

Проводящие

с Au покрытием иглы

с Pt покрытием иглы

с PtIr покрытием иглы

Специализированные АСМ зонды

С высоким аспектным отношением

Супер острые

С алмазным покрытием

С отклонённой иглой

C монокристаллической алмазной иглой

Коллоидные

СБОМ

Апертурные СБОМ кантилеверы

Волоконные СБОМ зонды

ВОПГ

Наборы калибровочных мер

Подложки

Тестовые образцы

TERS

Кремниевые TERS зонды

Оборудование для АСМ

Виброзащитные системы

Настольные виброзащиты для атомно-силовых микроскопов.

Модульные напольные виброзащиты под тяжёлые установки, электронные микроскопы

Пассивные виброзащиты для форвакуумных насосов

Главная > Каталог > АСМ калибровка > Калибровочные меры > TDG01

TDG01

30 000 руб.

– +

В корзину

Описание

Калибровочная решетка TDG01 для субмикронной по X/Y калибровки, период 278нм.

Мера периода линейная TDG01 относится к классу мер рельефных нанометрового диапазона и предназначены для передачи размера единицы длины в диапазоне 10^-9 ÷ 10^{-4 м}и поверки (калибровки) оптических ближнего поля, растровых электронных, сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, сканирующих близкопольных оптических микроскопов и других средств измерений малой длины.

Мера представляет собой совокупность протяженных шаговых структур на поверхности халькогенидного стекла с внешним диаметральным размером 12,5 мм и диаметральным размером рабочей области – 9 мм. Мера состоит из одинаковых шаговых структур с синусоидальной геометрической формой элемента рельефа шаговой структуры.

ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МЕРЫ

Наименование	Значение
Номинальное значение шага периодической структуры меры, мкм	0,278
Допустимое отклонение от номинального значения шага шаговой структуры, не более, мкм	± 0,001
Плотность периодической структуры меры, периодов/мм	3600
Пределы допускаемой относительной погрешности при формировании периодической структуры не более, %	0,03
Максимальная высота профиля меры не более, нм (не аттестуется)	60
Условия эксплуатации: а) При работе на воздухе - температура окружающего воздуха, °С - относительная влажность, % - атмосферное давление, Па б) При работе в вакуумных условиях - диапазон значений остаточного давления в камере образцов микроскопа, Па - температура держателя образца, ^оС	20 ± 3 65 ± 15 (100 ±4)·10³ 1·10^-4 ÷ 270 20 ± 3
Масса меры должна быть не более, кг	0,01
Габаритный размер меры (Диаметр × Толщина), мм	12.5×2.5
Размер рабочей области меры (Диаметр), мм	9.0