|
sales@tipsnano.ru Контакты |
|
Подбор параметров |
АСМ калибровка
Для определения достоверности исследований методом АСМ — микроскопии проводится тестирование и калибровка работы микроскопа и тестирование качества зондов (цена деления по X-, Y-, Z- координатам, радиус острия кантилевера, линейность и ортогональность осей сканирования). Для калибровки и определения рабочей формы зондов используются специальные тестовые структуры с известными параметрами рельефа поверхности. Для калибровки микроскопов в плоскости сканирования и по вертикали применяются дифракционные решетки с субмикронными размерами. При отсутствии специально изготовленных калибровочных решеток, можно использовать в качестве тестового объекта для получения атомарного разрешения свежий скол слюды или высоко ориентированного пиролитического графита (ВОПГ), т.к. параметры их рельефа хорошо известны. Преимуществами графита как тестового образца являются: стабильная работа выхода; низкая концентрация точечных и линейных дефектов; низкая химическая активность в атмосферных условиях; возможность получения атомарно — чистой поверхности. 
TGS1_PTB
Calibration grating set TGS1 (consists of three gratings TGZ1, TGZ2, TGZ3) with PTB tracable certificate. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm.
€1 200
TGS1_PTB
Calibration grating set TGS1 (consists of three gratings TGZ1, TGZ2, TGZ3) with PTB tracable certificate. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm.
€1 200
TGS1F
Set of 4 calibration gratings for AFM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity. Calibration grating set TGS1 for Z and X (or Y) calibration. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm, 1517±20nm.
€720
TGS1F
Set of 4 calibration gratings for AFM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity. Calibration grating set TGS1 for Z and X (or Y) calibration. Step height range: 20±2nm, 110±10nm, 520±20nm, 1517±20nm.
€720
TGS2
Set of 6 calibration gratings for SPM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.
€1 290
TGS2
Set of 6 calibration gratings for SPM lateral and vertical calibration, detection of lateral non-linearity, hysteresis, creep, and cross-coupling effects, determination of the tip shape.
€1 290
TGSFull
Набор калибровочных мер для АСМ для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности, гистерезиса, крипа, определения формы и остроты иглы.
€1 590
TGSFull
Набор калибровочных мер для АСМ для латеральной и вертикальной калибровки, субмикронной калибровки, одновременной калибровки во всех плоскостях, определения боковой и латеральной нелинейности, гистерезиса, крипа, определения формы и остроты иглы.
€1 590
SiC/0.75
Тестовый образец SiC/0.75 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
€240
SiC/0.75
Тестовый образец SiC/0.75 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
€240
TGS1
Набор из 3-х калибровочных решеток TGS1 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм, 110±10нм, 520±20нм.
€420
TGS1
Набор из 3-х калибровочных решеток TGS1 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм, 110±10нм, 520±20нм.
€420
SiC/1.5
Тестовый образец SiC/1.5 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
€240
SiC/1.5
Тестовый образец SiC/1.5 для калибровки АСМ по Z в диапазоне менее 10 нм, представляющий собой ступенчатую структуру карбида кремния.
€240
TGG1
Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.
€200
TGG1
Калибровочная решетка для вертикальной калибровки, определения боковой и вертикальной нелинейности сканера, определения остроты иглы.
€200
TGZ1
Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.
€170
TGZ1
Калибровочная решетка TGZ1для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 20±2нм.
€170
TGQ1
Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.
€350
TGQ1
Калибровочная решетка TGQ1 для одновременной калибровки по Z, X. Y со ступеньками высотой 20±2нм.
€350
TGZ2
Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.
€170
TGZ2
Калибровочная решетка TGZ2 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 110±10нм.
€170
PFM03
Тестовый образец из ниабата лития для Силовой Микроскопии Пьезоэлектрического отклика.
€450
PFM03
Тестовый образец из ниабата лития для Силовой Микроскопии Пьезоэлектрического отклика.
€450
TGZ3
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.
€170
TGZ3
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 520±20нм.
€170
TGZ4
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 1517±20nm.
€340
TGZ4
Калибровочная решетка TGZ3 для вертикальной калибровки с SiO2 ступеньками высотой 1517±20nm.
€340
|
